授課題目:FT-IR反射量測配件簡介
業界講師:蔡傳盛經理
任職單位:珀金埃爾默股份有限公司經理
上課時間:101.4.10( 9 :20-12:10)
講座主持人:廖炳傑教授
記錄者:吳政龍
FT-IR反射量測配件簡介:
何謂反射現象?簡單的來說就是光經由樣品表面輻射出來的現象,物體表面反射出來的情情況不同因此又分為正反射配件、散射配件、全反射配件。
正反射:簡單的來說當光以一個固定的入射角度照射至固體表面後,我們只發現在與入射角相同的反射角度被量測到反射現象稱為正反射。
散射:當光以一個固定的入射角度照射至固體表面後,我們發現反射出的光不均勻的分布在各方向而非固定在某一特定角度時,稱為散射。
全反射:當入射光自高折射率的介質入射至低折射率的介質。其入射光角大於臨界角時,就會發生全反射現象。
正反射應用領域:金屬薄層、單層膜分析、寶石鑑定、平滑面分析
樣品表面需光滑 入射角=反射角
散射:適用於粗造樣品、可磨成細粉固體
得到樣品表面及內部的信號、寬廣角度反射光線、樣品表面積較小
可利用SIC來分析樣品表面的Coating、得到約5~8%IR光強度
全反射:常用晶體依晶體折射率大小選擇不同晶體GI SI ZnSe KRS-5等
液體 固體 萬用型 分為單點式及多點式
穿透試測量:
固體樣品測量
Mull Cell法
KBR鹽片法
Cast Films分析法
Hot Pressed Films分析法
Beam Condenser法
液體樣品測量
氣體樣品測量基本上sample要以"粉末(powder) 或 溶液(solution) 或膜(film)"的形式存在:
當sample是powder時,與KBr一起打成鹽片;
當sample是solution時,將solution塗在KBr鹽片單面上;
當sample是film時,溶解在溶劑中後塗在KBR鹽片上
討論一下,IR鑑定中的背景掃瞄(scan background)所用的鹽片:
通常是乾燥箱中的KBr粉末打成鹽片使用;
但現在有現成的KBr鹽片可以購買,並且重複使用;
現成鹽片可省去打鹽片的時間,並拯救打不好漂亮鹽片的手拙者(如我,總是會有裂痕或碎裂):
但KBr是怕水的傢伙,透明的鹽片碰到水就會濁掉(fogging),
因此當sample成分含有"水"時,要另外採用的鹽片是"CaF2"材質。
何謂反射現象?簡單的來說就是光經由樣品表面輻射出來的現象,物體表面反射出來的情情況不同因此又分為正反射配件、散射配件、全反射配件。
正反射:簡單的來說當光以一個固定的入射角度照射至固體表面後,我們只發現在與入射角相同的反射角度被量測到反射現象稱為正反射。
散射:當光以一個固定的入射角度照射至固體表面後,我們發現反射出的光不均勻的分布在各方向而非固定在某一特定角度時,稱為散射。
全反射:當入射光自高折射率的介質入射至低折射率的介質。其入射光角大於臨界角時,就會發生全反射現象。
正反射應用領域:金屬薄層、單層膜分析、寶石鑑定、平滑面分析
樣品表面需光滑 入射角=反射角
散射:適用於粗造樣品、可磨成細粉固體
得到樣品表面及內部的信號、寬廣角度反射光線、樣品表面積較小
可利用SIC來分析樣品表面的Coating、得到約5~8%IR光強度
全反射:常用晶體依晶體折射率大小選擇不同晶體GI SI ZnSe KRS-5等
液體 固體 萬用型 分為單點式及多點式
穿透試測量:
固體樣品測量
Mull Cell法
KBR鹽片法
Cast Films分析法
Hot Pressed Films分析法
Beam Condenser法
液體樣品測量
氣體樣品測量基本上sample要以"粉末(powder) 或 溶液(solution) 或膜(film)"的形式存在:
當sample是powder時,與KBr一起打成鹽片;
當sample是solution時,將solution塗在KBr鹽片單面上;
當sample是film時,溶解在溶劑中後塗在KBR鹽片上
討論一下,IR鑑定中的背景掃瞄(scan background)所用的鹽片:
通常是乾燥箱中的KBr粉末打成鹽片使用;
但現在有現成的KBr鹽片可以購買,並且重複使用;
現成鹽片可省去打鹽片的時間,並拯救打不好漂亮鹽片的手拙者(如我,總是會有裂痕或碎裂):
但KBr是怕水的傢伙,透明的鹽片碰到水就會濁掉(fogging),
因此當sample成分含有"水"時,要另外採用的鹽片是"CaF2"材質。